产品详情
功率半导体器件产线测试设备

功率半导体器件产线测试设备

产品简介 本产品可为IGBT、碳化硅等功率半导体器件提供全套功率测试解决方案,高效实现从晶圆级到最终产品的ISO、DC、AC等全套测试,配置丰富的测试接口和功能模块选择,具备全自动化测试特点,满足不同器件对设备的测试要求。
产品特点
产品功能
主要参数
选型说明
  • 测试范围:AC测试:1500V/4000A,DC测试:2000V/2000A

  • 测试功能:接触可靠性测试、ISO测试、DC测试、AC测试等

  • 测试对象:SiC/IGBT 晶圆、芯片、单管、模块,针对不同封装定制测试治具

  • 测试过程:全自动化测试过程,自动生成数据报表

  • 回路杂感:<15nH,不含待测对象及socket

  • 保护功能:过流保护阈值可设置,保护时间<2us

  • 测试效率:UPH>200,具体依据实际测试对象及测试项目确定

  • 测试流程:可根据具体要求对测试功能模块进行选择和测试流程变更

  • 运行模式:可根据不同测试要求选择各功能并行或者异步模式运行




供电电源

220V±10%(单相+PE),50Hz±10%,10kW

测试对象

SiC/IGBT 晶圆、芯片、单管、模块

测试项

Kelvin,ISO,SW,SC,Qg,DC,RgCg,UIS等

AC测试最大电压电流

1500V,多脉冲4000A,短路12000A@10us

DC测试最大电压电流

2000V,2000A

UIS测试最大电压电流

3000V,200A

RgCg测试电压

Vds:1500Vmax,Vgs :±40V

AC测试杂感

<15nH,不包含被测器件及socket

AC测试过流保护

<2us

测试效率

UPH>200,具体依据实际测试对象及测试项目确定



地址:深圳市南山区高新南环路46号留学
              生创业大厦二期22楼
电话:0755-86329497
邮箱:info@qtjtec.com
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