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功率半导体器件/模组动态参数测试系统

功率半导体器件产线测试设备

脉冲信号发生器

功率半导体器件动态参数测试系统，可对功率半导体器件（IGBT、SiC、Diode）以及功率模组进行动态特性测试，包括双脉冲测试、短路测试、SOA测试、结温测试等，由上位机系统统一进行...

本产品可为IGBT、碳化硅等功率半导体器件提供全套功率测试解决方案，高效实现从晶圆级到最终产品的ISO、DC、AC等全套测试，配置丰富的测试接口和功能模块选择，具备全自动化测试特点，满足不同器件对设备的测试要求

多功能高精度脉冲发生器是一款专为测试IGBT/MOSFET驱动器所设计的脉冲脉冲发生器，可以工作在单、双、多脉冲模式或连续周期模式或SPWM模式。工作在脉冲模式下可以进

地址：深圳市南山区高新南环路46号留学

生创业大厦二期22楼

电话：0755-86329497

邮箱：info@qtjtec.com

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